集束イオンビーム(FIB)ナノ加工顕微鏡装置

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(※ 重要なお知らせ)2016/9/23 更新

ユーザーのみなさまへ

試料挿入口の Oリング が非常に外れやすくなっています

試料交換時は必ずご確認いただき、外れた(ずれた)ままの状態でEVAC等の操作を続けないでください。

また、装置内のランプが切れておりホルダーセット箇所が見えにくくなっています。

備え付けのライトでガラス窓越しに外側から照らして確認してください。

(※ 重要なお知らせ)

時間外利用許可者は理系守衛室にて鍵を受け取りのうえ、ご利用いただけます。

鍵の貸し出し時間: 平日 8時~22時(22時までに返却厳守)

予約システムで予約可能な時間帯に関しては、必ず予約を取ってください。

なお、該当者に変更はありません。(※ 時間外利用 許可を受けていない方は鍵を借りれません)

 

関連資料

こちらの資料は学内のみアクセス許可しています。

  • JIB-4000 オペレーションダイジェスト

 

搬入可能試料サイズ

試料搬入口正面から見た図(単位:ミリメートル)です。

グレーの四角い部分が試料ホルダーになります。

  • 試料ホルダーからはみ出すくらい径の大きなものは、径50mm×高さ2mmまで
  • 試料ホルダーと同じ径であれば、径28mm×高さ13mmまで

ということになります。

これは試料が装置に入るかの目安サイズです。

加工可能範囲とは異なりますのでご注意ください。