FIB共通利用室

FIBは集束イオンビーム (Focused Ion Beam) 装置の略称です。

細く絞ったイオンビームを用いて半導体・金属・高分子材料などの試料を加工でき、透過電子顕微鏡用の試料作製などにも使われます。

SIM像による試料極表面領域のハイコントラストな像観察も可能です。

利用規約

装置の利用規約を精読のうえ、遵守してください。

  • 集束イオンビーム (FIB) ナノ加工顕微鏡装置利用規約

 

利用者登録

利用者(登録・解約)申請書を記入後、小林(理 F-117)までお持ちください。

不在の場合は部屋前にあるBOXへ提出ください。

  • 利用者(登録・解約)申請書

 

管理装置

名 称 型 番 設 置 場 所 利 用 料 金
FIBナノ加工顕微鏡 JEOL
JIB-4000
理 F-106 1コマ(2時間):
超過 15分毎:
¥4,000-
¥500-

 

FIB運営委員会連絡先

氏 名 居 室 電 話 番 号 メール

幹事

運営委員長代理:

小 林 理 F-117 06-6605-3030
技術スタッフ: 石 本 工 B-325 06-6605-2157